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CIOE2020 | 普賽斯攜芯片系列解決方案及400G誤碼儀成功參展

摘要:在2020年的深圳光博會上,普賽斯電子現場展示了COC老化系統、BAR條自動測試機、探測器組件測試分揀一體機、CHIP TESTER、全新8路ED收發400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統等。

  ICC訊 9月9-11日,武漢普賽斯電子技術有限公司攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設備與最新技術方案亮相中國光博會(CIOE),成立于2010年的普賽斯電子專業研究和開發光通信器件產線監測和測試方案,以及自動化生產設備。產品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發模塊、BOB等生產線,旨在為光電器件生產客戶提供完美的服務。

  在10年的發展中,普賽斯電子已經成為國內光通訊測試儀器儀表商的領先代表。隨著光通訊產品的快速升級迭代,儀器儀表的新產品是每年觀展的亮點。在2020年的深圳光博會上,普賽斯電子現場展示了COC老化系統、BAR條自動測試機、探測器組件測試分揀一體機、CHIP TESTER、全新8路ED收發400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統等。

  光芯片全自動測試機

  光芯片全自動測試機應用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結果進行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍膜上料,CHIP-ID 自動識別記憶匹配測試,通過藍膜頂針剝離機構,吸嘴吸取,機械手分別搬運到高溫及常溫測試區域,自動擺位,自動給電,收集發光參數,分析篩選,機械手搬運分檔歸類。此設備具有高速、高精度特點,實現了復雜時序、嚴密邏輯的工藝過程。設備采用了偏心凸輪驅動、連桿及精密夾具等機構,配合多軸運動、視覺定位、視覺字符匹配等技術,具有批量生產能力。

  功能特點

  芯片藍膜上料,通過視覺系統自動識別芯片ID,并可根據藍膜上物料得擺放形式設定拾取搜索路線。頂針剝離機構剝離芯片,機械手自動拾取;

  通過校準臺對拾取歸放完畢的芯片進行二次定位;

  探針自動下壓加電,探針下壓力度可調;

  高溫,常溫測試臺,溫度采用閉環控制;

  光纖準直器及PD自動切換收光,測試常溫及高溫P4-V,常溫背光光功率,常溫和高溫光譜特性;

  機械手對測試NG物料自動拋料;

  測試OK物料根據測試結果自動分檔歸類;

  設備所有運動軸均可獨立復位;

  可用標準TO及芯片進行校準,并對其他工藝參數進行設置;

  軟件中加電條件、測試溫度等測試參數可設定;

  針對生產過程中的重要環節均有實時動態提示;

  生產過程中的異常情況均有報警提示及糾錯提示功能

  測試分選區支持4-6WaferRing,每個WaferRing可通過軟件設置進一步細分檔位。

  探測器組件測試分揀一體機

  產品簡介

  適用探測器組件(無需做老化測試的PIN-TIA或者APD器件)的測試及下料分揀,可與封帽機無縫對接,采用其下料盒上料,實現插管腳、測試、分檔、下料至吸塑盒全過程,最終產出成品。

  能特點

  光源帶1MHZ調制信號;

  可以測試在調試光信號條件下的Vpp值;

  響應度測試;

  光源穩定性高;

  支持1310nm,1490nm,850nm光源輸出;

  全自動插料、下料;·支持多種料盒提籃式上料;

  最多支持6個下料檔位;

  管腳方向圖像識別;

  下料盒孔位圖像識別;

  器件插入SOCKET失敗報警功能,不損傷器件管腳;

  器件放料失敗報警功能;

  根據不同客戶需求,定制化的數據存儲功能。

      BAR自動測試機

  產品簡介

  普賽斯BAR自動測試機用于LD巴條LV曲線,光譜,光自動測量。全自動上下料,支持多種規格料盒上料,支持多種規格料盒或藍跌下料。常溫、高溫雙濕測試,高溫測試溫度可由用戶自定。單或雙探針加電,測試NGchip采取打點標記,向用戶開放測量數據庫,用于后續篩分工序。

  功能特點

  支持多種主演規格料盒,全自動上下料,避免轉料或人工操作對巴條chip造成的報廢;

  單臺集成常溫測量臺和高溫溟量臺,前光LV曲線、功率、光諾測量,背光功率測量,多參費多條件篩分,盡可能篩選出不良chip,避免流入后道工序;

  多維度可調測量結構,滿足用戶對不同夏核巴條測量需求;

  全自動測控程序,支持chip編碼識別,NG Chip保用打點標記。



  400G高速誤碼儀(PSS BERT19881)

  產品簡介

  普賽斯400G高速誤碼測試系統(PSS BERT19881)是一款針對于多通道PAM4和NRZ應用的高速信號誤碼性能分析儀,最高支持8x56Gb/sPAM4信號測試,亦可支持10G-28Gb/sNRZ信號測試,設備包含8路PPG,8路ED收發端信號可同時或者獨立工作,單路最高支持56Gb/sPAM4信號,支持多類型碼型測試方案。

  發端包含多級預加重調節模式,可針對PAM4信號進行眼型調節等功能,收端包含0~-9dB CTLE均衡調節,也可支持FFE、DF等均衡功能,支持FEC功能,可實現PRBS錯誤校驗與修正,KP4/KR4FEC協議,具備SNR監測功能??蓮V泛于100G模塊、200G模塊、400G模塊、AOC、光器件及子系統研發生產等光測試場景,亦可為高速光收發模塊自動化生產測試提供最佳解決方案。

  期待普賽斯電子保持創新,為光通信帶來高性能高性價比的產品,用強實力助力5G及數據中心產業快速發展。

內容來自:訊石光通訊咨詢網
本文地址:http://www.869793.tw//Site/CN/News/2020/09/11/20200911072332918374.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: 普賽斯
文章標題:CIOE2020 | 普賽斯攜芯片系列解決方案及400G誤碼儀成功參展
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